1-1 傅立葉轉換紅外線光譜儀FT-IR規格
- 光譜範圍：7,800 - 350cm-1(KBr) 27,000 - 15cm-1 (Opt.)
- 最大解析度：0.075 cm-1
- 訊號/雜訊比： 50,000:1 (Peak to Peak)
- ASTM 線性率： 低於 0.07%T
- A/D Converter： 24 bit
- 光徑自動校正及動態校正功能
- DSP (Digital Signal Processor) Technology

特色：
1. 目前市面上功能最佳應用擴充性最機種，可測定波長範圍27000~15 cm -1。
2. 解析度最佳可達0.075cm-1，雜訊比50,000:1，最快掃速度可達96次/秒。
3. 低磨擦系數磁浮式干涉儀，時動態光學校正，確保最精準分析光譜。
4. 所有部件均模組化定位，可由使用者自行更換，勿需手動校正,紅外燈源及干涉儀均五年原廠保固。
5. 無磨損電磁驅動干涉儀，連續動態調整(DSP)，速度達每秒130,000次，保證瞬間與長時間測試的超高穩定性。
6. 可外接擴充IR Microscopy、TGA、GC Interface、Raman。

1-2 獨立式 紅外線顯微光譜儀
顯微紅外光譜儀最新品，不同於以往的顯微FT-IR必須搭配FT-IR主機型式，且需加裝MCT-A偵測器，才能做顯微樣品分析；iN10單一顯微分析儀，僅需單獨購買一台顯微鏡，不需由FT-IR主機提供紅外光能量，可做至50 x 50 microns以下的樣品分析。

 規格
．光譜範圍： 7,600 - 450cm-1(DTGS ) 
                7,800  650cm-1(option MCT-A)
                 7,800  720c m-1(option MCT-A linear array)
．訊號/雜訊比： 25,000:1 with cooled detector(MCT-A)
．干涉儀：dynamic aligned high-speed interferometer up to 10scan/sec at 16cm-1
．分光鏡： Ge-on KBr
．DTGS (standard)偵測器量測極限： 50 x 50 microns
．MCT-A (Optional)偵測器量測極限： 優於10 x 10 microns
．MCT-A (Optional) 16hrs LN2 hold time

特色：
1. 整合式紅外光顯微鏡，不需搭配FTIR主機。
2. 具DTGS及MCT偵測器；最多可配備3組偵測器。
3. 自動聚焦、自動穿透、反射切換及自動光圈功能。
4. 具ATR自動測試功能，具接觸壓力顯示功能，可設定樣品分析時之壓力需求。
5. 可同時觀察樣品收集FTIR數據。
6. 軟體可在同一視、同時顯示參數設定、CCD影像、及紅外光圖譜等所有資訊。
7. 具圖譜預覽及圖譜預搜尋功能 ，可尋最佳之數據採集點。

1-3 DSC Equipment
技術規格
型號：DSC N-650
溫度範圍：-150℃到725℃
溫度準確度：0.1℃
溫度精確度：0.1℃
熱電偶類型：K型
加熱冷速率：0.1-200℃/分鐘
DCS 差示掃描量熱儀是用來測量熱流隨溫度及時間變化而變化的儀器。熱流板可監測到同樣品和惰性參比之間的差熱，當樣品發生相變或反應時。此差熱和樣品在程式控溫下吸收或放出的熱量成比例關係。量熱儀用標準物作參比校正，熱分析軟體可通過校正因數精確地檢測出樣品相變的溫度範圍及變。
DSC 提供了一個靈敏的測量能源，使得樣品及參比感測器之間的熱干擾最小化。的設計比市場上同類的DSC靈敏度高出兩倍。得益於精密的電子元件，重現性好，信比高。使用裝有熱分析軟體的DSC儀器，分析人員可以測量變、璃化轉變溫度、熱容、純度、反應動力等。

1-4 TGA Equipment
技術規格
1. 高感度
配備重量準確度 0.1 μg之高感度的微量天平。
2. 溫度範圍
室溫到1000℃/1500℃
3. 加熱速率
0.1~300℃/每分鐘)：大範圍可調的加熱速率，可滿足多種條件下的實驗要求。
4. 冷方式
採用水冷：降溫快速，使用安全，保護加熱爐周邊的電子元件。
5. 可與FT-IR（紅外線分析儀）和 Quadruple-mass （質譜）聯用
可與FT-IR/Quadruple-mass聯用，聯用時解析度極高；加熱爐的體積小，氣體轉換快；不換加熱爐也能做EGA實驗。
6. 4種氣體轉換開關
可轉換4種氣體，滿足多種條件下的實驗。
7. TGA N-1000
在精確的溫度調製下準確地測量出樣品的重量變化
8. 系統
多範圍的升溫及降溫速率的控制。
9. 結果及分析軟體
測量同步儲存結果，可隨時把結果調出來進行分析。

主要特點
TGA  Windows 軟體操作方便的優點。程式能動實驗，繪出時資料圖。程式能處理所有的計算，以“real time”的效率輸出到印表機。
當動溫度程式時，我們可同時使用氣體吹掃控制開關。垂直支架之設計提供了穩定和平緩的重量資訊，在實驗中實現同步存。TGA之加熱爐對溫度回應快，而且可以迅速冷，下一個實驗做好準備。


儀器介紹
TGA 是在程式控溫下，測量樣品的重量隨溫度變化而變化的儀器。系統可實現包括多次加熱，冷，等溫升溫的複雜的控制程式

1-5 STA Equipment
技術規格
型號： STA N-650/1000/1500
溫度範圍： -125到1000℃ 室溫-1000/1500℃
溫度精確度： 0.1℃
重量準確度： 0.1μg
加熱冷速率： 0.1-100/50/50℃分鐘


主要特點

STA特點：
完整的STA,是同時擁有DSC和TGA功能
高感度天平以及溫度高感度
水冷氏加熱爐
可與 FT-IR 、Q-MS或其他氣體分析儀器連用
小體積掃頻加熱爐
自動氣體開關 (可選用)
TGA的高容量(最大 3.5g)
加熱部件和氣體分離


儀器介紹

STA可實現同步進行DSC和TGA實驗
DSC可測量樣品隨溫度或時間變化的熱流變化情況。熱流板可以感應到樣品相變或反應時樣品和標準品的熱差。這個熱差與在程式控溫下樣品吸收或放出的熱量成比例關係。STA儀器是由標準物質校正，熱分析軟體可通過校正參數而精確地檢測樣品相變化溫度範圍和。
TGA可以測量在精密的控溫程式下樣品品質的變化。STA系統可以實行包括加熱、冷、等溫升溫的複雜的控溫程式。控溫程式動時氣體吹動裝置也能提供。垂直的支架設計可以提供實驗穩定的、平順的重量資料。STA中輕便的加熱爐對溫度變化回應極快而且可以迅速冷以備下一個實驗。

1-6 Autosampler and Sipper system
自動進樣系統

• 自動取樣器

• 自動進樣系統

1-7 Fiber Optic System

光纖取樣系統

• 穿透式光纖頭

• 容易安裝

• 使用光纖頭測試液體樣品，不需使用樣品槽

1-8 可變真空/ 小型Chamber/ 3軸馬達自動控制
 產品介紹

Strengths:

• 可變真空型，小型樣品窗Φ 160mm x 120mm，3軸馬達軸自動控制
• 多樣性的觀察模式:解析、景深、廣角、大視野等
• 特有的三透鏡大視野觀察（Wide Field    Optics™）設計，該設計提供了多種工作模式與顯示模式，展現了特有可將電子束孔徑最優質化的中間境設計。
• 全自動的顯微鏡設定，包括電子光學的設定與校正。
• 優質的  SEM  控制軟體、抓取圖片、檔案管理、處理與分析功能。
• 網路操作與內建遠端遙控/診斷，皆為 Tescan 的標準 配備。
• 採用分子幫浦(Turbo Pump)，抽氣效率快，亦不會造成汙染。
• 硬體升級容易，高真空機組,可升級為可變真空機組，無須另購機台。
• 不須冷卻水系統，除了節省維修費外,亦節省安裝空間。
• 燈絲使用壽命長 200 小時
• 偵測器採用YAG 材質，永久不會耗損
•  可搭配各廠牌分析儀器(EDS,WDS.EBSD…….等)

1-9 高真空/ 小型Chamber/ 3軸馬達自動控制
產品介紹

Strengths: 

• 小型樣品窗Φ 160mm x 120mm，3 軸馬達軸自動控制
• 多樣性的觀察模式:解析、景深、廣角、大視野等
• 特有的三透鏡大視野觀察（Wide Field    Optics™）設計，該設計提供了多種工作模式與顯示模式，展現了 Tescan 特有可將電子束孔徑最優質化的中間境設計。
• 全自動的顯微鏡設定，包括電子光學的設定與校正。
• 優質的  SEM  控制軟體、抓取圖片、檔案管理、處理與分析功能。
• 網路操作與內建遠端遙控/診斷，皆為 Tescan 的標準 配備。
• 採用分子幫浦(Turbo Pump)，抽氣效率快，亦不會造成汙染。
• 硬體升級容易，高真空機組,可升級為可變真空機組，無須另購機台。
• 不須冷卻水系統,除了節省維修費外,亦節省安裝空間。
• 燈絲使用壽命長 200 小時
• 偵測器採用YAG 材質，永久不會耗損
•  可搭配各廠牌分析儀器(EDS,WDS.EBSD…….等)

氣相層析儀GC 

 Split/Splitless Injector

 FID detector

Manual Flow Control

GC/MS

Single Quadrupole Analyzer